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Votre recherche pour: LEICA MICROSYSTEMS


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Image du produit-LEIM11506529

HC PLAN APO 20×/0,80 NA, TL-BF, TL-DIC, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distance de travail: 0,4 mm

Description: HC PLAN APO 20×/0,80 NA, TL-BF, TL-DIC, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distance de travail: 0,4 mm
Numéro de catalogue: LEIM11506529
UOM: 1 * 1 ST
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image non disponible-LEIM11522103

Microscope, Manual polarizer holder including polariser, Grossissement: 4 - 100X, Distance de travail: 1 - 40 mm

Description: Microscope, Manual polarizer holder including polariser, Grossissement: 4 - 100X, Distance de travail: 1 - 40 mm
Numéro de catalogue: LEIM11522103
UOM: 1 * 1 ST
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-630-3396

Microscope, Numérique, Leica® THUNDER imager assay package, Leica®

Description: Microscope, Numérique, Leica® THUNDER imager assay package, Leica®
Numéro de catalogue: 630-3396
UOM: 1 * 1 SET
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-LEIM11506097

N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distance de travail: 0,36 mm

Description: N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distance de travail: 0,36 mm
Numéro de catalogue: LEIM11506097
UOM: 1 * 1 ST
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Distance de travail: 12 mm

Description: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Distance de travail: 12 mm
Numéro de catalogue: 630-3366
UOM: 1 * 1 Un.
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Distance de travail: 11,7 mm

Description: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Distance de travail: 11,7 mm
Numéro de catalogue: 630-3368
UOM: 1 * 1 Un.
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Distance de travail: 1,15 mm

Description: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Distance de travail: 1,15 mm
Numéro de catalogue: 630-3367
UOM: 1 * 1 Un.
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-630-3370

N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Distance de travail: 0,5 mm

Description: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Distance de travail: 0,5 mm
Numéro de catalogue: 630-3370
UOM: 1 * 1 Un.
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distance de travail: 0,5 mm

Description: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distance de travail: 0,5 mm
Numéro de catalogue: 630-3369
UOM: 1 * 1 Un.
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-630-3398

Microscope, Laser microdissection system, Leica®, LMD6

Description: Microscope, Laser microdissection system, Leica®, LMD6
Numéro de catalogue: 630-3398
UOM: 1 * 1 SET
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-LEIM11506277

HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distance de travail: 0,92 mm

Description: HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distance de travail: 0,92 mm
Numéro de catalogue: LEIM11506277
UOM: 1 * 1 Un.
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-LEIM11506401

HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distance de travail: 17,7 mm

Description: HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distance de travail: 17,7 mm
Numéro de catalogue: LEIM11506401
UOM: 1 * 1 Un.
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-LEIM11506227

HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distance de travail: 18 mm

Description: HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distance de travail: 18 mm
Numéro de catalogue: LEIM11506227
UOM: 1 * 1 Un.
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-630-3536

Microscope, Stéréo, Binoculaire, Ivesta 3 set

Description: Microscope, Stéréo, Binoculaire, Ivesta 3 set
Numéro de catalogue: 630-3536
UOM: 1 * 1 SET
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-LEIM11566083

N PLAN EPI 10×/0,25 BD; TL-BF, TL-DIC, TL-P, TL-DF, IL-BF, IL-DIC, IL-P, IL-DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distance de travail: 16,1 mm

Description: N PLAN EPI 10×/0,25 BD; TL-BF, TL-DIC, TL-P, TL-DF, IL-BF, IL-DIC, IL-P, IL-DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distance de travail: 16,1 mm
Numéro de catalogue: LEIM11566083
UOM: 1 * 1 ST
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
Image du produit-LEIM11566077

N PLAN EPI 5×/0,12 BD; TL-BF, TL-DIC, TL-P, TL-DF, IL-BF, IL-DIC, IL-P, IL-DF, FLUO contrast, 5×, Distance de travail: 14 mm

Description: N PLAN EPI 5×/0,12 BD; TL-BF, TL-DIC, TL-P, TL-DF, IL-BF, IL-DIC, IL-P, IL-DF, FLUO contrast, 5×, Distance de travail: 14 mm
Numéro de catalogue: LEIM11566077
UOM: 1 * 1 ST
Fournisseur: LEICA MICROSYSTEMS
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